NANOSTAR
- Описание
Модульный дизайн для результатов высшего класса
NANOSTAR c его несравненной модульностью — идеальный инструмент для определения характеристик наноструктур в диапазоне от 1 нм практически до 125 нм, а также наноструктурированных поверхностей SAXS, GISAXS и нанографии.
Коллимационная система с зеркальным объективом обеспечивает высокую интенсивность, параллельный пучок рентгеновских лучей, так что достигается короткое время измерения. В то же время, коллимационная система сохраняет идеальную форму кругового луча и эффективно устраняет фон, что позволяет анализировать образцы слабого рассеивания так же качественно, как и крупные структуры.
NANOSTAR анализирует чистые свойства образца даже в неизотропных системах. Модульный дизайн позволяет устанавливать расстояние между детектором и образцом от 11.5 мм до 1070 мм. Таким образом, весь диапазон от SAXS до WAXS оказывается покрытым: в сочетании с опцией Image Plate (IP) одновременно.
Особенности
-
Модульная установка для наибольшей гибкости
-
Отличные рентгеновские источники: IμS, TXS и METALJET
-
Оптика MONTEL с коллимационной системой со сменным объективом для высокого потока/высокого разрешения
-
Коллимационная система низкого фона, использующая традиционный трехступенчатый объектив или новый SCATEX
-
Двухступенчатый объектив
-
Большое пространство для размещения множества держателей образцов
-
VÅNTEC-2000, крупный 2D-детектор с настоящей способностью считать фотоны
- Переменное расстояние между образцом и детектором, покрывающее широкий q-диапазон